多功能薄层点样紫外分析仪
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本实用新型是一种薄层色谱分析点样装置。它主要是在现有仪器面板上加装了由(21)、(22)、(23)、(29)各部件构成的点样器机架，该机架可沿直杆(23)上下运动，并可沿横向导轨(30)、纵向导轨(16)任意移动。机架上装有小灯泡(12)和放大镜(17)，彻底克服了人手自然抖动，眼力不足，缺乏经验造成的点样不合格现象。另外，本装置还配备有恒温加热板，圆形点样盘(15)，像机附件安置装置，遮光罩等，使得点样过程十分方便，提高了薄层分析的精度和工作效率。
基本信息
专利标题 ：
多功能薄层点样紫外分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88200304.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-01-12
授权号 ：
CN88200304U
授权日 ：
1988-09-21
发明人 ：
徐敏
申请人 ：
徐敏
申请人地址 ：
湖北省武汉市武昌三道街12号
代理机构 ：
武汉市专利事务所
代理人 ：
王和平
优先权 ：
CN88200304.6
主分类号 ：
G01N30/91
IPC分类号 ：
G01N30/91
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/90
平面色谱法，例如薄层或纸色谱法
G01N30/91
样品的施加
法律状态
1992-05-13 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-12-27 ：
授权
1988-09-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
