薄层调频分析技术

专利申请的视为撤回

摘要

一种薄层调频分析技术，是地震勘探中识别薄层的分析方法，从分析反射系数出发，建立调频母函数h(f)＝N、T分别为薄层系数和总厚度，R为薄层系边界反射系数，r为薄层系内部反射系数。以频率为X轴，以强度为Y轴作频谱图，得到薄层的调频特征为光栅效应，次光栅越多，薄层层数越多，层数等于次光栅数加2，从而判断薄层系的存在性质。

基本信息

专利标题：

薄层调频分析技术

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1099142A

申请号：

CN93116731.0

公开（公告）日：

1995-02-22

申请日：

1993-08-20

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

张双喜

申请人：

地质矿产部西北石油地质局;中国地质大学(武汉)

申请人地址：

830011新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市北京北路2号

代理机构：

中国地质大学(武汉)专利事务所

代理人：

吕建军

优先权：

CN93116731.0

主分类号：

G01V1/30

IPC分类号：

G01V1/30