一种薄层PCB电路板分析用样品夹
授权
摘要
本申请涉及一种薄层PCB电路板分析用样品夹，涉及PCB电路板检测的技术领域，其包括夹体，所述夹体内开设有夹持腔；所述夹体包括相互盖合的上夹部和下夹部，所述上夹部远离下夹部的一侧壁上开设有多个分析孔；所述下夹部位于夹持腔内可拆卸设置有多个垫块，且所述垫块位于下夹部远离上夹部的一侧壁上，所述垫块与分析孔相对设置。本申请具有对薄层PCB电路板进行SIMS分析的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种薄层PCB电路板分析用样品夹
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022301831.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-15
授权号 ：
CN213364646U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
高峰程诚陈磊叶金明李苏佼
申请人 ：
闳康技术检测（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区祖冲之路1505弄138号6幢一楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022301831.6
主分类号 ：
G01N27/64
IPC分类号 ：
G01N27/64 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/64
利用波或粒子辐射电离气体，例如在电离室内
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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