基于薄层色谱技术用于元素形态分析的进样装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于薄层色谱技术用于元素形态分析的进样装置。本实用新型的进样装置，它包括可密闭的样品室和移动加热装置；样品室相对两个壁上分设有一个进气口和一个出气口；移动加热装置设置于样品室的腔体内，所述移动加热装置可沿所述进气口至所述出气口的方向移动。本实用新型能加热解吸层析斑点中的物质以进样检测，加热更集中高效，能够快速高效地解吸出；装置结构简单，操作简便，成本低。
基本信息
专利标题 ：
基于薄层色谱技术用于元素形态分析的进样装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921764280.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-21
授权号 ：
CN211235697U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
邢志李铭黄秀范博文
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园1号
代理机构 ：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
关畅
优先权 ：
CN201921764280.8
主分类号 ：
G01N30/90
IPC分类号 ：
G01N30/90 G01N30/91 G01N1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/90
平面色谱法，例如薄层或纸色谱法
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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