光量子测量探头
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本实用新型公开了一种积分式测量光量子数的测量探头，它的光谱响应曲线被修正成一直线段，它由余弦校正器(1)、滤色器(2)和光电转换器件(3)组成，它可以对光量子数进行积分测量。这种光量子测量探头与分光法测量光量子数相比，具有体积小、造价低、速度快等优点。
基本信息
专利标题 ：
光量子测量探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88206817.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-06-04
授权号 ：
CN2034276U
授权日 ：
1989-03-15
发明人 ：
潘建根
申请人 ：
潘建根
申请人地址 ：
浙江省杭州市玉泉浙江大学光仪系
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
张法高
优先权 ：
CN88206817.2
主分类号 ：
G01J3/00
IPC分类号 ：
G01J3/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
法律状态
1991-10-23 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1990-01-31 ：
授权
1989-03-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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