一种光量子交换机插损测量系统
授权
摘要
本申请提供一种光量子交换机插损测量系统，其中测量系统包括光源、分束器、第一光功率计、上位机以及第二光功率计；所述光源与所述分束器光学连接；所述分束器分别光学连接于所述第一光功率计的进口端以及待测光量子交换机的进口端；所述第二光功率计光学连接于待测光量子交换机的出口端；所述上位机通过数据接口分别与所述第一光功率计、所述第二光功率计以及待测光量子交换机连接。本申请能够通过上位机自动计算待测光量子交换机的各通道插损，测量效率高，大大缩短了测量时间，同时避免了光纤头的多次插拔，进一步消除了光纤头被污染的风险，测量更加准确。
基本信息
专利标题 ：
一种光量子交换机插损测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921030362.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-04
授权号 ：
CN210426954U
授权日 ：
2020-04-28
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
北京中创为南京量子通信技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市浦口区江浦街道仁山路1号园区2号楼办公室东侧ER301室
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
董成
优先权 ：
CN201921030362.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 H04Q11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-04-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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