一种时分复用光路插损测量装置及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提出了一种时分复用光路插损测量装置及方法，其中可以利用光功率计、偏振分析仪及光电探头等常规仪器，无需单光子探测器的参与及复杂的测量过程和数据处理，即可直接测量出时分复用光路中各路径的插损；同时，借助本发明，在面对不同待测光路时，无需更改仪器配置，可以适应具有不同延时差的光路。因此，借助本发明可以借助简单的操作和低的装置成本，高效精确地实现对时分复用光路的插入损耗的测量。
基本信息
专利标题 ：
一种时分复用光路插损测量装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114448612A
申请号 ：
CN202011229379.5
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2020-11-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘仁德汤艳琳许穆岚唐世彪
申请人 ：
科大国盾量子技术股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区望江西路800号合肥创新产业园D3楼
代理机构 ：
北京云嘉湃富知识产权代理有限公司
代理人 ：
李思霖
优先权 ：
CN202011229379.5
主分类号 ：
H04L9/08
IPC分类号 ：
H04L9/08 H04B10/079
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04L 9/08
申请日 : 20201106
申请日 : 20201106
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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