基于光路的大尺寸支撑结构形变量测量装置及测量方法
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摘要
本发明公开了一种基于光路的大尺寸支撑结构形变量测量装置及方法,包括激光测距设备、接收器、折转镜、支撑架、参考镜和测试镜,折转镜安装在支撑架上,参考镜安装于待测结构朝向激光测距设备的一侧上,测试镜安装于待测结构远离激光测距设备的另一侧上,支撑架设于激光测距设备与待测结构之间,激光测距设备与接收器相连;参考镜与测试镜的数量相同。本发明的测试装置通过测量激光的位移变化量,得出被测结构三维位置的形变量,精度高,在待测支撑结构尺寸在5m×5m×5m范围内时三维位置变形量测量精度可达5μm。本发明的测试方法能灵活应用于多种不同结构形式的大尺寸支撑结构的三维变形量测试,适用范围广泛,简单易行,效率高,节约时间与成本。
基本信息
专利标题 :
基于光路的大尺寸支撑结构形变量测量装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112504154A
申请号 :
CN202011201872.6
公开(公告)日 :
2021-03-16
申请日 :
2020-11-02
授权号 :
CN112504154B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
朱硕
申请人 :
南京信息工程大学滨江学院
申请人地址 :
江苏省无锡市锡山区锡山大道333号
代理机构 :
南京苏高专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
柏尚春
优先权 :
CN202011201872.6
主分类号 :
G01B11/16
IPC分类号 :
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形,例如光学应变仪
法律状态
2022-06-03 :
授权
2021-04-02 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20201102
申请日 : 20201102
2021-03-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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