桥体加反干扰源tgδ测量方法
专利申请的视为撤回
摘要
一种桥体加反干扰电源的介质损耗因素tgδ测量方法，能在现场强电场干扰下对输变电气设备，特别是干扰最严重的电压、电流互感器的tgδ值进行准确测量。本发明有技术特征是在测量电桥的一个桥臂上接入反干扰电源Es，使它产生的反干扰电流同强电场干扰下产生的干扰电流大小相等而相位相反，以消除干扰电流对测量结果的影响。
基本信息
专利标题 ：
桥体加反干扰源tgδ测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1052378A
申请号 ：
CN89105802.8
公开（公告）日 ：
1991-06-19
申请日 ：
1989-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
傅志扬
申请人 ：
傅志扬
申请人地址 ：
410007湖南省长沙市韶山路省电力试验研究所
代理机构 ：
湖南省专利服务中心
代理人 ：
马强
优先权 ：
CN89105802.8
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
1995-10-25 ：
专利申请的视为撤回
1991-06-19 ：
公开
1990-05-09 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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