高精度测角表光栅副设计方法
专利申请的视为撤回
摘要
本发明属于一种高精度测角仪表的光栅副设计方法，它是在主、副两个光栅盘上，分别刻制出度、分、秒、1/1000秒甚至更高精度级的刻线，利用刻线、字划作为光的通道，主、副刻线重合透光显示数值。这种集多组游标于一体的方法，具有在一个小的光栅表面积上获得高精度测量数据的效果。采用本方法制造的光栅副与发光系统配合使用，可制成各种高精度的测角仪表。
基本信息
专利标题 ：
高精度测角表光栅副设计方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1049906A
申请号 ：
CN89105950.4
公开（公告）日 ：
1991-03-13
申请日 ：
1989-08-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谭融
申请人 ：
谭融
申请人地址 ：
614801四川省乐山市牛华镇四街76号附5号
代理机构 ：
乐山市专利事务所
代理人 ：
叶建民
优先权 ：
CN89105950.4
主分类号 ：
G01B11/26
IPC分类号 ：
G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
1993-06-30 ：
专利申请的视为撤回
1991-03-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
