基于全场光电扫描的精密光栅测角方法及结构
实质审查的生效
摘要

本发明公开一种基于全场光电扫描的精密光栅测角方法及方法,该结构外壳,在外壳内设置旋转轴,在旋转轴上由左向右依次套设光源、标尺光栅和感知单元,光源、感知单元固定在外壳上,所述标尺光栅套设在旋转轴上随旋转轴旋转,且标尺光栅为透射式圆光栅,所述感知单元是栅状感知阵列,栅状感知阵列呈环形分布,栅状感知阵列上布置有N个周向均匀布置的扫描探测单元。本发明采用光电探测的栅状感知阵列进行干涉信号的全场探测,实现从“点”离散感知到“面”连续感知的突破,其优势在于:感知信号的全场误差均化效应、服役位姿误差的全场抑制效应,提高了精密光栅测角传感器的服役精度和可靠性。

基本信息
专利标题 :
基于全场光电扫描的精密光栅测角方法及结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114322852A
申请号 :
CN202111467436.8
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
叶国永雷彪金少搏王通杨志勃
申请人 :
郑州轻工业大学
申请人地址 :
河南省郑州市金水区东风路5号
代理机构 :
郑州中原专利事务所有限公司
代理人 :
王晓丽
优先权 :
CN202111467436.8
主分类号 :
G01B11/26
IPC分类号 :
G01B11/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度;用于检测轴线准直
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/26
申请日 : 20211203
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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