测量超导材料穿透深度的微波传输法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是一种超导材料穿透深度的测量方法，该方法是建立在超导材料的穿透深度与该材料的微带线段干超导态和正常态时的相位差有明确的函数关系这一基础之上的。本发明先制作一条特性阻抗为50Ω的铜微带线，其中取下一段，代以相同长度和宽度的被测超导线段，用微波网络分析仪分别测出有关相位值，从而获得超导微带线段在超导态和正常态下的相为差，并通过计算求得穿透深度值。本发明使用方便，并具有宽频带的优点，对体超导材料和超导薄膜均适用。
基本信息
专利标题 ：
测量超导材料穿透深度的微波传输法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1045181A
申请号 ：
CN90102824.X
公开（公告）日 ：
1990-09-05
申请日 ：
1990-03-27
授权号 ：
CN1016215B
授权日 ：
1992-04-08
发明人 ：
蔡树榛
申请人 ：
复旦大学
申请人地址 ：
200433上海市邯郸路220号
代理机构 ：
复旦大学专利事务所
代理人 ：
陆飞
优先权 ：
CN90102824.X
主分类号 ：
G01N22/00
IPC分类号 ：
G01N22/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N22/00
利用微波或者无线电波，即具有一毫米或更大的波长的电磁波测试或分析材料
法律状态
1994-02-02 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-01-27 ：
授权
1992-04-08 ：
审定
1990-09-05 ：
公开
1990-08-22 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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