在测试存贮器装置时写入数据的方法和测试存贮器装置的电路
其他有关事项
摘要
测试存贮器装置的电路具有数据写入装置、数据检测装置和控制电路。测试存贮器装置时写入数据的方法包括下列步骤：在一对比特线B/L和B/L之间产生一电压差，以及在存贮单元的电容中直接存贮数据。根据本发明可在比特线上直接写入数据。此外，在一个周期内能够完整地校验每一存贮单元并大大地减少了测试时间。
基本信息
专利标题 ：
在测试存贮器装置时写入数据的方法和测试存贮器装置的电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1048463A
申请号 ：
CN90104915.8
公开（公告）日 ：
1991-01-09
申请日 ：
1990-06-09
授权号 ：
CN1019243B
授权日 ：
1992-11-25
发明人 ：
崔勋
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道水原市
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
马铁良
优先权 ：
CN90104915.8
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2002-04-24 ：
其他有关事项
1993-09-01 ：
授权
1992-11-25 ：
审定
1991-01-09 ：
公开
1990-12-19 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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