光干涉测长计恒温槽
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型属于测量固体材料膨胀系数的装置，是一种高精度的光干涉测长计恒温槽。它采用双层黑体空腔式结构，温度计选择与样品的形状与尺寸基本相同，二者的放置在对称的位置上，使温度计与样品在内腔中同处热等势面上，保证了真实温度的测量。本实用新型具有结构简单，体积小，控温方便的特点。按此装置，当测量材料的温度差为50℃时，其平均线膨胀系数的最大偏差不大于3×10-8(℃)-1。
基本信息
专利标题 ：
光干涉测长计恒温槽
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90210353.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-04-07
授权号 ：
CN2064499U
授权日 ：
1990-10-24
发明人 ：
刘庆国刘成银李昕刘羽辉张凤芝曹鸿
申请人 ：
东北工学院
申请人地址 ：
110006辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号
代理机构 ：
沈阳市和平区专利事务所
代理人 ：
于飞
优先权 ：
CN90210353.9
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
1993-08-04 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-06-12 ：
授权
1990-10-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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