光干涉膨胀仪测长装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型属于光干涉膨胀测量技术领域，是一种测量固体材料膨胀系数的装置。光干涉膨胀仪测长装置其样品测试空间采用双层黑体空腔式结构，温度计选择与样品的形状、尺寸基本相同，二者的放置按对称分布，方向一致，双层黑体空腔式结构的外侧套置液氮冷却槽，冷却槽设置有充氮入口和出口，冷却槽的四周充填低黑度的绝热屏蔽层，通过外壳，上盖等部件将其固定，以此来制造从低温到高温的宽温度变化范围的温度环境。
基本信息
专利标题 ：
光干涉膨胀仪测长装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91210705.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-06-08
授权号 ：
CN2098006U
授权日 ：
1992-03-04
发明人 ：
刘庆国岳文生吴恩庚周必福岳文龙刘红心刘宏伟杨淑文刘成银李昕
申请人 ：
东北工学院
申请人地址 ：
110006辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号
代理机构 ：
沈阳市和平区专利事务所
代理人 ：
于飞
优先权 ：
CN91210705.7
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
1994-05-04 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-12-16 ：
授权
1992-03-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
