由干涉法测材料线膨胀系数的装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型涉及一种由于干涉法测材料线膨胀系数的装置。它主要由光源、光学干涉系统、干涉检测部件、测温和控温器件以及记录器件等构成。该装置的主要特点是测量准确，可测量小膨胀系数材料，同时还可对厚度极薄的金属薄片试样的线膨胀系数进行测量。本实用新型所述装置的测量范围可高至600℃左右，它可由计算机进行数据收集、处理及输出，从而实现了测量的自动化。
基本信息
专利标题 ：
由干涉法测材料线膨胀系数的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89206887.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-05-05
授权号 ：
CN2053326U
授权日 ：
1990-02-21
发明人 ：
王培玉张金凤
申请人 ：
上海钢铁研究所
申请人地址 ：
上海市吴淞泰和路1001号
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
吴俊
优先权 ：
CN89206887.6
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
1993-09-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-10-31 ：
授权
1990-02-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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