光纤干涉仪臂长差测试系统
授权
摘要
一种基于随机相位噪声分离技术的光纤干涉仪臂长差测试系统，该系统包括：扫描激光器、单频激光器、测试光路、待测光纤干涉仪、信号采集模块、信号处理系统。测试光路是由1个2*2光纤耦合器，1个光纤环形器，2个波分复用器(WDM)组成；待测光纤干涉仪为1副迈克逊干涉仪，由1个2*2光纤耦合器、1卷光纤线圈和2个法拉第反射镜组成；信号采集模块功能主要包括光电转换，模拟信号采集和信号模数转换；信号处理系统功能包括扫数据采集模块控制、光纤干涉仪臂长差数字信号处理。本实用新型能在噪声和振动环境下实现光纤干涉仪臂长差的高精度测试。
基本信息
专利标题 ：
光纤干涉仪臂长差测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020610703.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-22
授权号 ：
CN211904198U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
叶蕾叶青蔡海文翟荣辉王照勇卢斌
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所;上海中科神光光电产业有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张宁展
优先权 ：
CN202020610703.7
主分类号 ：
G01D18/00
IPC分类号 ：
G01D18/00 G01D5/353 G01D3/028
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D18/00
测试或校准大组G01D1/00-G01D15/00中列入的设备或装置
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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