一种基于强度调制的不等臂干涉仪测试装置
授权
摘要
本申请提供一种基于强度调制的不等臂干涉仪测试装置，其中的测试装置的光源模块用于输出周期脉冲光，强度调制模块将经过待测不等臂干涉仪以及标准不等臂干涉仪的光脉冲中的非干涉光脉冲的强度调制到小于测量装置的灵敏度，最后通过功率计直接测量出光强值。因此本申请的装置光源采用普通的周期光源，测量装置中采用功率计进行测量，相对于现有采用宽谱光源以及光谱仪的测量装置而言成本大大减小。本申请的测量模块由于使用的是功率计，能够直观的准确的反应测量结果，而现有的测量装置采用的是光谱仪，需要根据测量的谱图利用经验估计法或测量计算法得出对比度。
基本信息
专利标题 ：
一种基于强度调制的不等臂干涉仪测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920894425.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-13
授权号 ：
CN209930266U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
陈建戴微微刘鹏
申请人 ：
北京中创为量子通信技术有限公司
申请人地址 ：
北京市怀柔区雁栖经济开发区杨雁路88号E24号
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
董成
优先权 ：
CN201920894425.X
主分类号 ：
H04B10/54
IPC分类号 ：
H04B10/54 H04B10/079
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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