调制器测试系统
实质审查请求的生效
摘要
本发明揭示了一种对采用带有调制器和集成电路系统进行整体测试的系统。所述测试系统包括使调制器连续发送数据的结构和使连续发送的数据呈现极度频率偏移的结构。上述两种结构均可以是一个单寄存器。所述寄存器可包括一组可被置位用来选择一种连续或交替方式亦即选择最大或最小峰值频率偏移的二进制位。
基本信息
专利标题 ：
调制器测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1083291A
申请号 ：
CN93109005.9
公开（公告）日 ：
1994-03-02
申请日 ：
1993-07-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
戴尔E·古利克斋藤信J·W·彼得逊野垣胜饭村年昭
申请人 ：
先进显微设备股份有限公司
申请人地址 ：
美国德克萨斯州
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
竹民
优先权 ：
CN93109005.9
主分类号 ：
H04B17/00
IPC分类号 ：
H04B17/00 H04B1/00
法律状态
1995-12-13 ：
实质审查请求的生效
1994-03-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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