双基准高度尺
公开
摘要
本设计是在高度尺原标尺(9)相对的一侧有标尺(2)和活动游标(3)，形成高度尺的第二基准。当测定基准和高度尺原基准(尺座底面)不重合时，用调节活动游标代替调节第二基准，以满足不同工件测绘要求。该高度尺对旋转零件划线(或测量)时免除了繁杂的基准换算，避免了基准换算中的错误，提高工作效率和产品合格率。
基本信息
专利标题 ：
双基准高度尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90215179.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-12-10
授权号 ：
CN2105666U
授权日 ：
1992-05-27
发明人 ：
唐志毅杨东生邹智敏
申请人 ：
唐志毅;杨东生;邹智敏
申请人地址 ：
610044四川省成都市华西医科大学物理教研室廖品清收转
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN90215179.7
主分类号 ：
G01B3/04
IPC分类号 ：
G01B3/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/00
各组中所列的以使用机械测量方法为其特征的量具
G01B3/02
用于直接读数的带刻度或标记的尺
G01B3/04
刚性的
法律状态
1992-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN2105666U.PDF
PDF下载
