孔对平面垂直度的检测方法
公开
摘要
本发明是以计算机控制测量过程，用三个传感器和一个芯轴测量孔对平面垂直度的方法。本发明的核心是将孔对平面垂直度的测量转换成为对两个平面法线夹角的测量。方法的主要内容是先将传感器校正在垂直于芯轴轴线的同一平面内，芯轴插入被测孔中，由传感器测得被测平面三点的坐标值，计算机根据传感器的初始值和测取值，计算出两平面法线的夹角，即完成了孔对平面垂直度的测量。特点是测量精度高，方法迅速、简便、可靠。
基本信息
专利标题 ：
孔对平面垂直度的检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1067961A
申请号 ：
CN91107224.1
公开（公告）日 ：
1993-01-13
申请日 ：
1991-06-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄凤翔胥尚焜廖源田贵云
申请人 ：
成都科技大学
申请人地址 ：
610065四川省成都市磨子桥成都科技大学
代理机构 ：
成都科技大学专利代理事务所
代理人 ：
吕建平
优先权 ：
CN91107224.1
主分类号 ：
G01B21/24
IPC分类号 ：
G01B21/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/24
••用于检测轴线准直
法律状态
1993-01-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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