低浊度测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型提供一种在低浊度范围内性能较好的测量仪。它除采用了常规结构外，还采用光电管作传感器，普通光源，以只读贮存器为核心的EPROM线化电路，因此具有灵敏度高，稳定性好，结构简单，调整方便，成本低廉等特点。它既可单次检测，也可用于连续测量。
基本信息
专利标题 ：
低浊度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91203730.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-03-11
授权号 ：
CN2096066U
授权日 ：
1992-02-12
发明人 ：
黄葵
申请人 ：
中国市政工程中南设计院
申请人地址 ：
湖北省武汉市解放公园路45号
代理机构 ：
武汉市专利事务所
代理人 ：
丁齐旭
优先权 ：
CN91203730.X
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
1994-02-02 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-03-24 ：
授权
1992-02-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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