微量浊度测量仪
专利权的终止
摘要
本实用新型属于浊度测量仪的改进，其技术特点在于有一个旋转样品台，并用多级光电倍增管作散射光接收器，接有用可调零点及放大倍数的运放构成的散射光放大器，因此灵敏度很高而且工作稳定。还可在某一较高浊度附近的一小浊度范围进行展宽测量。同时，本实用新型还可附有固体标样，是用透明玻璃贴毛玻璃片构成。这更有利于进行微量和超微量浊度测量。本仪器可用于制剂、制酒、微量分析、生化、环保等多个领域。
基本信息
专利标题 ：
微量浊度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85200885.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85200885U
授权日 ：
1986-06-11
发明人 ：
张扶人朱泽昊张和民梁一平
申请人 ：
西南师范学院
申请人地址 ：
四川省重庆市北碚区
代理机构 ：
西南师范学院专利研究室
代理人 ：
尤奇
优先权 ：
CN85200885.6
主分类号 ：
G01N21/49
IPC分类号 ：
G01N21/49
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
法律状态
1990-08-01 ：
专利权的终止
1986-12-24 ：
授权
1986-06-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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