一种浊度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种浊度测量装置，光源部用于发出光，第一滤光部用于允许光源部发出光中预设波段光通过而阻挡其它波段光，第一导光部用于将通过第一滤光部的光以第一预设角度从第一光阑发射出，以投射到被测样品；第二导光部用于将由被测样品反射回的以第二预设角度进入第二光阑的光引导传播到第二滤光部，第二滤光部用于允许预设波段光通过而阻挡其它波段光，光电感应部用于接收通过第二滤光部的光并转换为电信号。本实用新型浊度测量装置中设置滤光部来允许通过预设波段光而阻挡其它波段的杂光，并且通过光阑排除杂散光，因此与现有的浊度测量装置相比，能够减少杂散光，提高信噪比，优化浊度测量装置性能。
基本信息
专利标题 ：
一种浊度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921690952.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-10
授权号 ：
CN211086082U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
魏峰李静镜李辉董剑峰段欣念
申请人 ：
杭州绿洁环境科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区仓前街道绿汀路1号1幢101室
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王雨
优先权 ：
CN201921690952.5
主分类号 ：
G01N21/55
IPC分类号 ：
G01N21/55
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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