水处理系统的水浊度测量装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本实用新型涉及提供一种水处理系统的水浊度测量装置，包括红外发光二极管安装在L形支架一边，红外光敏感器件安装在L形支架另一边。转叶安装在转轴上，转轴固定在L形支架上。装置工作时，红外发光二极管发出的红外线光经水中的微小固体颗粒反射到红外光敏感器件。通过红外光敏感器件的输出就可判断水中的微小固体颗粒的多少即浊度。同时在水流的作用下，转叶在转轴上旋转，不断地清洗红外发光二极管和红外光敏感器件的发射接收表面。达到能长期工作同时不会因表面结垢产生测量误差的目的。
基本信息
专利标题 ：
水处理系统的水浊度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720082162.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-11-28
授权号 ：
CN201104264Y
授权日 ：
2008-08-20
发明人 ：
谢弗伊
申请人 ：
四川西部高新产业开发有限公司
申请人地址 ：
610041四川省成都市高新区高朋大道5号B座206
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200720082162.X
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17 G01N15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2010-02-10 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-08-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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