干涉杨氏模量测定仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种用于测量材料物理性能的干涉杨氏模量测定仪，它是在由框架、双刀口、滑块、干涉镜、滑道床体、测力传感器及传动机构所组成的迈克尔逊干涉仪上又设一个可作用在试件上的单刀口，其尾端通过连杆与滑块相连，而其前部则与测力传感器左端相连，本实用新型测量精度高误差小于1％，结构简单、操作简便，可用于多种材料的测量。
基本信息
专利标题 ：
干涉杨氏模量测定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91207664.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-05-07
授权号 ：
CN2111524U
授权日 ：
1992-07-29
发明人 ：
徐振盛王茂全
申请人 ：
大连轻工业学院
申请人地址 ：
116034辽宁省大连市大辛寨子
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN91207664.X
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
1995-07-05 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-05-05 ：
授权
1992-07-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
