测量电压和/或电场强度的方法和传感器
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种测量电压和／或电场的方法，它利用晶体（１）所具有的光电效应（纵向光电效应）来实现，为此沿Ｚ方向的偏振光波（１７′）的垂直于传播方向（ｙ方向）在晶体（１）内沿ｘ轴方向上，将产生一个电场强度的梯度，根据该梯度可获得晶体（１）的折射率ｎ的相应的梯度，由此在该晶体（１）内出现该光波（１７′）的取决于场强变化的偏转，所出现的这一偏转可用来测出电压或场强。这里同样地描述了一种合适的传感器。
基本信息
专利标题 ：
测量电压和/或电场强度的方法和传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1077539A
申请号 ：
CN93101957.5
公开（公告）日 ：
1993-10-20
申请日 ：
1993-02-23
授权号 ：
CN1052304C
授权日 ：
2000-05-10
发明人 ：
迪克·皮埃尔霍尔格·希尔什
申请人 ：
MWB高压系统公司
申请人地址 ：
联邦德国班贝格
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
马浩
优先权 ：
CN93101957.5
主分类号 ：
G01R19/00
IPC分类号 ：
G01R19/00 G01R15/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
法律状态
2006-04-26 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2000-05-10 ：
授权
1995-05-31 ：
实质审查请求的生效
1993-10-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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