专用集成电路样机

专利申请的视为撤回

摘要

一种对集成电路或ASIC执行仿真的电子硬件ASIC样机，使可能在随后的硬件环境中对要生成组分测试。借助于在逻辑单元中附加一个可编程延迟装置，并借助于利用具有延迟装置耦合段与由多个逻辑单元形成的逻辑模块相结合，可以在仿真期间，实现对ASIC时间特性的考虑，获得完整的仿真。借助于对所规定的逻辑状态适当地设置所有的输入，可以实现故障仿真。借助于可编程的延迟装置，可以检测到竞争问题。

基本信息

专利标题：

专用集成电路样机

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1081284A

申请号：

CN93103573.2

公开（公告）日：

1994-01-26

申请日：

1993-03-08

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

M·蔡纳M·布丁尼

申请人：

克罗内有限公司

申请人地址：

联邦德国柏林

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

马铁良

优先权：

CN93103573.2

主分类号：

H01L27/118

IPC分类号：

H01L27/118 H01L21/66 G01R31/318