集成电路块专用测试表棒
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种探头做成凹锥面形的，测试表棒，这样在使用该表棒测试集成电路块参数时，可彻底避免人为损坏集成电路块。
基本信息
专利标题 ：
集成电路块专用测试表棒
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91200415.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-01-03
授权号 ：
CN2134652Y
授权日 ：
1993-05-26
发明人 ：
芦陆登
申请人 ：
芦陆登
申请人地址 ：
317300浙江省仙居县百货公司商场
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN91200415.0
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
1995-03-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-05-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN2134652Y.PDF
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