检测金属物位置的金属物检测装置及所用的矩阵传感器
专利申请的视为撤回
摘要
设有矩阵传感器(20)和驱动该矩阵传感器的信号处理系统的金属物检测装置。矩阵传感器具有分别沿行和列配置，由一对导线(62)构成的若干根发送线(22)和接收线(26)以及支承这些线的基板(17)。该成对导线的一端相连接，另一端为信号输入输出端。基板上有发送端子部(23)及接收端子部(27)和发送线及接收线的配线区域。在发送和接收用配线中，至少一方仅对各对导线的去路或回路用输入输出端单独设置配线，另一个则使用共用配线。
基本信息
专利标题 ：
检测金属物位置的金属物检测装置及所用的矩阵传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1077535A
申请号 ：
CN93104625.4
公开（公告）日 ：
1993-10-20
申请日 ：
1993-04-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
武本孝俊川岛一成半田繁
申请人 ：
株式会社爱司电研
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
王以平
优先权 ：
CN93104625.4
主分类号 ：
G01N27/00
IPC分类号 ：
G01N27/00 A63F7/02 H04Q9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
法律状态
1998-09-09 ：
专利申请的视为撤回
1995-05-10 ：
实质审查请求的生效
1993-10-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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