四极质谱仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种四极质谱仪包括用以测量总离子电流的测量装置，在电子源灯丝四周具有一个电子反射栅极。该电子反射栅极反射由电子源灯丝发射的电子，并推动电子离开反射板和灯丝，并吸引正离子。当正离子接触到电子反射栅极时，在电子栅极处测量到感应电流。测得的电流表示穿过质谱仪的总离子电流。因此不需要测量总离子电流的总压力测量板，由于电子反射栅极的离子曝露表面积大于总压力测量板的离子曝露表面积，本发明改进了总压力的测量灵敏度。
基本信息
专利标题 ：
四极质谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1100808A
申请号 ：
CN94105292.3
公开（公告）日 ：
1995-03-29
申请日 ：
1994-04-11
授权号 ：
CN1037133C
授权日 ：
1998-01-21
发明人 ：
Ｐ·Ｖ·福利
申请人 ：
ＭＫＳ仪器有限公司
申请人地址 ：
美国马萨诸塞州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
张志醒
优先权 ：
CN94105292.3
主分类号 ：
H01J49/42
IPC分类号 ：
H01J49/42
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/26
质谱仪或质量分离管
H01J49/34
动态分光仪
H01J49/42
轨迹稳定型分光仪，如单极的、四极的、多极的、线振质谱仪型的
法律状态
1999-06-09 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1998-01-21 ：
授权
1996-03-20 ：
实质审查请求的生效
1995-03-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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