质谱仪
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
一质谱仪，包括用于离化样品的离子源和用于引入如此形成的离子到真空的对其进行质量分析的质量分析区，离子源备有一包括至少在大气压下工作的可加热的毛细管的喷射离子源，毛细管的中心轴是与沿孔中心对准用于收回离子，毛细管的顶端置于靠近孔的位置以从液体色谱离化样品，通过热喷射离化和大气压离化两模式，对离子进行质量分析，从而对样品获得更精确的分析信息。
基本信息
专利标题 ：
质谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1037593A
申请号 ：
CN89102966.4
公开（公告）日 ：
1989-11-29
申请日 ：
1989-04-27
授权号 ：
CN1021372C
授权日 ：
1993-06-23
发明人 ：
坂入实神原秀记
申请人 ：
株式会社日立制作所
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
赵越
优先权 ：
CN89102966.4
主分类号 ：
G01N30/72
IPC分类号 ：
G01N30/72 G01N27/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/62
相应的专用检测器
G01N30/72
质谱仪
法律状态
2008-06-25 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2002-04-24 ：
其他有关事项
1993-06-23 ：
授权
1989-11-29 ：
公开
1989-10-25 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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