纳米度量计
实质审查请求的生效
摘要
用于以纳米精度测量物体的位移的设备，它包括：用于初级电信号的rf源(50)；传感器(24)，用于产生中间信号；相移装置(56)，它与中间信号作用，以使物体的位移使相移装置(56)将中间信号的路径长度改变一个与该位移直接有关的量；相位传递装置(60)，使中间信号的相位被传递到次级信号；以及，相位检测器(62)，用于测量次级信号的相位在物体位移时相对于初级信号的改变。
基本信息
专利标题 ：
纳米度量计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1102288A
申请号 ：
CN94190054.1
公开（公告）日 ：
1995-05-03
申请日 ：
1994-01-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
M·F·路易斯
申请人 ：
大不列颠及北爱尔兰联合王国国防大臣
申请人地址 ：
英国英格兰伦敦
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
杜有文
优先权 ：
CN94190054.1
主分类号 ：
G01D5/48
IPC分类号 ：
G01D5/48 G01B9/02 G01J9/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器
G01D5/48
采用波或粒子辐射装置
法律状态
1996-04-10 ：
实质审查请求的生效
1995-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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