在线X荧光分析自动制样送测系统
专利权的终止
摘要

本发明提供了一种在线X荧光分析自动制样送测系统。包括底座,置于底痤上的立柱、顶部有送料漏斗的支架、装探测器的移动装置,制样电机装在立柱顶部且其输出轴穿过立柱顶部,丝杆一端伸入立柱顶部与之螺纹配合后伸出立柱顶部且其伸出端底部装有压头,丝杆通过传动机构与制样电机连接,在底座上在与丝杆底部压头相对应位置上有压样垫,与压样垫和压头配合的样品杯装于受步进电机带动的旋转臂上,支架内相对于送料漏斗出料口处有受传动电机带动的含传送带的传送装置,所述的系统中有采用单片机U1控制各电机工作的控制装置。本发明自动化程度高。

基本信息
专利标题 :
在线X荧光分析自动制样送测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1793873A
申请号 :
CN200510022356.6
公开(公告)日 :
2006-06-28
申请日 :
2005-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
任家富庹先国陶永莉
申请人 :
成都理工大学
申请人地址 :
610051四川省成都市二仙桥东三路1号
代理机构 :
成都立信专利事务所有限公司
代理人 :
江晓萍
优先权 :
CN200510022356.6
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N1/28  G01N35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2014-02-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101571526679
IPC(主分类) : G01N 35/10
专利号 : ZL2005100223566
申请日 : 20051223
授权公告日 : 20100428
终止日期 : 20121223
2010-04-28 :
授权
2006-08-23 :
实质审查的生效
2006-06-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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