动态缺陷校正方法和装置、以及具有其的电子设备
专利权的终止
摘要
一种一维缺陷校正方法及装置,依据像素的一维阵列,判断本区最大信号强度、本区最小信号强度以及邻近区域的平均值,判断像素是否为缺陷像素。假使像素是要被校正的,则判断如何将值校正,而非如同已知的中值滤波器般,仅对邻近区平均。
基本信息
专利标题 :
动态缺陷校正方法和装置、以及具有其的电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1992792A
申请号 :
CN200510048865.6
公开(公告)日 :
2007-07-04
申请日 :
2005-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李明修武藤雅季
申请人 :
台湾新力国际股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
吴立明
优先权 :
CN200510048865.6
主分类号 :
H04N5/217
IPC分类号 :
H04N5/217 H04N5/243 H04N5/16
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法律状态
2015-02-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101599919516
IPC(主分类) : H04N 5/217
专利号 : ZL2005100488656
申请日 : 20051231
授权公告日 : 20091014
终止日期 : 20131231
号牌文件序号 : 101599919516
IPC(主分类) : H04N 5/217
专利号 : ZL2005100488656
申请日 : 20051231
授权公告日 : 20091014
终止日期 : 20131231
2009-10-14 :
授权
2007-08-29 :
实质审查的生效
2007-07-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN100550979C.PDF
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2、
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