动态缺陷校正方法和装置、以及具有其的电子设备
专利权的终止
摘要
一种一维缺陷校正方法及装置，依据像素的一维阵列，判断本区最大信号强度、本区最小信号强度以及邻近区域的平均值，判断像素是否为缺陷像素。假使像素是要被校正的，则判断如何将值校正，而非如同已知的中值滤波器般，仅对邻近区平均。
基本信息
专利标题 ：
动态缺陷校正方法和装置、以及具有其的电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1992792A
申请号 ：
CN200510048865.6
公开（公告）日 ：
2007-07-04
申请日 ：
2005-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李明修武藤雅季
申请人 ：
台湾新力国际股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
吴立明
优先权 ：
CN200510048865.6
主分类号 ：
H04N5/217
IPC分类号 ：
H04N5/217 H04N5/243 H04N5/16
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法律状态
2015-02-25 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101599919516
IPC(主分类) : H04N 5/217
专利号 : ZL2005100488656
申请日 : 20051231
授权公告日 : 20091014
终止日期 : 20131231
号牌文件序号 : 101599919516
IPC(主分类) : H04N 5/217
专利号 : ZL2005100488656
申请日 : 20051231
授权公告日 : 20091014
终止日期 : 20131231
2009-10-14 ：
授权
2007-08-29 ：
实质审查的生效
2007-07-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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