缺陷像素校正方法
公开
摘要
一种缺陷像素的校正方法，包括：接收来自多个帧中的中心像素的至少一个中心像素信号；接收来自与多个帧中的中心像素相邻的多个相邻像素的多个相邻像素信号；确定多个帧中的中心像素信号的亮度；确定多个帧中的多个相邻像素信号的亮度；确定中心像素信号的亮度是否超过多个帧中的多个相邻像素信号的受损像素阈值；确定亮度大于多个帧中的至少一个帧中的受损亮度阈值的中心像素的位置；确定在亮度大于多个帧中的受损像素阈值的中心像素重复出现次数；确定重复出现次数是否超过缺陷像素阈值，若重复出现次数超过缺陷像素阈值，则将至少一个中心像素信号更新为多个相邻像素信号的平均值。
基本信息
专利标题 ：
缺陷像素校正方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114598830A
申请号 ：
CN202210216127.1
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
岳家驹吴东晖陈斌王超
申请人 ：
黑芝麻智能科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市青山区和平大道1278号深国投中心/栋/单元27层2701号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
景怀宇
优先权 ：
CN202210216127.1
主分类号 ：
H04N5/3745
IPC分类号 ：
H04N5/3745 H04N5/369 H04N5/44
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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