像素暗电流计算方法、装置、像素校正系统及方法
公开
摘要
本发明提供了一种像素暗电流计算方法、装置、像素校正系统及方法，所述像素暗电流计算方法，包括获取像素数据，每一行所述像素数据包括两个颜色通道；通过2n个数据通道依次读取所述像素数据，以将每一个颜色通道的像素数据输出为n组分组数据包，n为正整数；按照位置分别对n组所述分组数据包进行滤波采样以得到若干组采样数据包；按照大小对每一组所述采样数据包中的数据进行排序，将排序后位于中间位置的数据作为目标数据，以得到若干组目标数据；对所述目标数据进行累加求和并计算平均值，以得到每一个颜色通道的暗电流。本发明能够对图像传感器的像素数据进行暗电流校正，有效提高了输出的图像质量。
基本信息
专利标题 ：
像素暗电流计算方法、装置、像素校正系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114302077A
申请号 ：
CN202111629876.9
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王福张远
申请人 ：
上海集成电路研发中心有限公司;上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号
代理机构 ：
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄海霞
优先权 ：
CN202111629876.9
主分类号 ：
H04N5/361
IPC分类号 ：
H04N5/361 H04N5/374
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
