一种缺陷像素检测方法
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本发明公开了一种缺陷像素检测方法,包括:建立一个缺陷像素的信息集合;建立一个判断缺陷像素及更新上述集合的规则;在使用过程中对被检测帧图像进行检测并根据所述规则来对上述缺陷像素信息集合进行更新。本发明针对传统的缺陷像素动态检测技术中,只依据单个帧图像中的像素点来进行判断而检测缺陷像素的方法进行了改进,设计并引入了相关的历史信息做为参考,从而大大提高了检测的准确性,减少了将好像素当成缺陷像素等误判情况的出现几率。

基本信息
专利标题 :
一种缺陷像素检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1767660A
申请号 :
CN200510114927.9
公开(公告)日 :
2006-05-03
申请日 :
2005-11-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
俞青王浩
申请人 :
北京中星微电子有限公司
申请人地址 :
100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200510114927.9
主分类号 :
H04N17/00
IPC分类号 :
H04N17/00  H04N5/335  
法律状态
2018-07-27 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : H04N 17/00
变更事项 : 专利权人
变更前 : 中星技术有限公司
变更后 : 中星技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 519031 广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-23898(集中办公区)
变更后 : 519031 广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-23898(集中办公区)
2018-01-09 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : H04N 17/00
登记生效日 : 20171221
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京中星微电子有限公司
变更后权利人 : 中星技术有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层
变更后权利人 : 519031 广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-23898(集中办公区)
2009-02-25 :
授权
2006-06-28 :
实质审查的生效
2006-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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