单温区电阻炉热解法生长并纯化碳纳米管的工艺
专利权的终止
摘要

本发明公开了一种单温区电阻炉热解法生长并纯化碳纳米管薄膜的工艺,利用炉温曲线的分布规律,找到适合酞菁铁升华的温度区和碳纳米管的生长区,分别放置酞菁铁和生长衬底,从而在单温区电阻炉中实现酞菁铁和衬底处于不同的温度区域;采用酞菁铁作为催化剂和碳源,其升华温度为540℃~550℃,碳纳米管在衬底上的生长温度为850℃~900℃,在常压下进行反应。整个工艺包括衬底预处理、碳纳米管薄膜生长和纯化等多个步骤,得到直径为20nm~50nm,管长几十微米的碳纳米管。纯化后的碳纳米管薄膜的纯度和场发射特性大幅度提高,该工艺可以为碳纳米管场发射平板显示器、放电型气体传感器、负离子发生器以及多种其它真空微电子器件提供一种实用的阴极制备技术。

基本信息
专利标题 :
单温区电阻炉热解法生长并纯化碳纳米管的工艺
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1765736A
申请号 :
CN200510096426.2
公开(公告)日 :
2006-05-03
申请日 :
2005-11-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱长纯李昕刘卫华刘君华
申请人 :
西安交通大学
申请人地址 :
710049陕西省西安市咸宁路28号
代理机构 :
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 :
李郑建
优先权 :
CN200510096426.2
主分类号 :
C01B31/02
IPC分类号 :
C01B31/02  
法律状态
2014-01-29 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101565523019
IPC(主分类) : C01B 31/02
专利号 : ZL2005100964262
申请日 : 20051128
授权公告日 : 20080507
终止日期 : 20121128
2008-05-07 :
授权
2006-06-28 :
实质审查的生效
2006-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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