应用有源式有机发光二极管阵列的像素电路的方法
专利权的终止
摘要
检测有源式矩阵有机发光二极管内的所有驱动单元是否发生任何制造上的不良，以在制造过程之中，在有源式矩阵有机发光二极管形成发光层之前，提早找出发生制造不良的元件并过滤以减少制造之后段的有机材料损失及制造时间，并大幅增加制造优良率。被检测的有源式矩阵有机发光二极管中包含多个电压源，多个像素电极，与多个驱动单元，与像素电极一一对应。任一驱动单元中包含有一第一晶体管，一第二晶体管，与一存储电容，借助每一驱动单元内所有元件的检测结果以准确地找出发生制造不良的元件。
基本信息
专利标题 ：
应用有源式有机发光二极管阵列的像素电路的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1942029A
申请号 ：
CN200510107014.4
公开（公告）日 ：
2007-04-04
申请日 ：
2005-09-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朱文国安宝桢
申请人 ：
中华映管股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台北市
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
陶凤波
优先权 ：
CN200510107014.4
主分类号 ：
H05B33/08
IPC分类号 ：
H05B33/08 G09G3/30 G01R31/00
法律状态
2020-09-15 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : H01L 51/50
申请日 : 20050927
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20190927
申请日 : 20050927
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20190927
2009-05-06 ：
授权
2007-05-30 ：
实质审查的生效
2007-04-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
