电子器件连通性分析方法和系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
从电子器件的表示确定并检验所述电子器件中的连通性的技术。通过识别所述电子器件中的电子元件和信号，以及提供所述识别的电子元件和信号的指示，来确定连通性。基于所述识别的元件和信号，确定所述电子器件是否满足一个或多个标准，从而检验连通性。在一些实施例中，确定连通性后所提供的指示随后用于检验连通性。
基本信息
专利标题 ：
电子器件连通性分析方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1755378A
申请号 ：
CN200510108001.9
公开（公告）日 ：
2006-04-05
申请日 ：
2005-09-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
J·S·格里巴
申请人 ：
阿尔卡特公司
申请人地址 ：
法国巴黎
代理机构 ：
北京市中咨律师事务所
代理人 ：
杨晓光
优先权 ：
CN200510108001.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2008-05-21 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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