一种采用模拟方法实现的电平检测电路
专利申请权、专利权的转移
摘要

本发明公开了一种采用模拟方法实现的电平检测电路,它可以检测锁相环电路锁定情况,可以利用该电路结合一定的逻辑功能模块,就可以实现对锁相环电路锁定时间的判定。它包括低通滤波器、基准电压发生器、两个比较器、锁存器,所述的低通滤波器主要是将来自锁相环电路的非线性变化信号的毛刺滤除,提取信号的直流和低频分量,所述基准电压发生器产生所述两个比较器所需要的偏置电压信号以及两个比较器输入端所需要的比较信号,所述比较器是将经过所述低通滤波器后的非线性变化信号同由所述基准电压发生器所产生的两个电压信号相比较,并返回逻辑0或1,所述锁存器是将两个比较器的逻辑信号锁存或跳变。

基本信息
专利标题 :
一种采用模拟方法实现的电平检测电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1980065A
申请号 :
CN200510111295.0
公开(公告)日 :
2007-06-13
申请日 :
2005-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱红卫刘天伟温建新童红亮
申请人 :
上海华虹NEC电子有限公司
申请人地址 :
201206上海市浦东新区川桥路1188号
代理机构 :
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 :
丁纪铁
优先权 :
CN200510111295.0
主分类号 :
H03L7/08
IPC分类号 :
H03L7/08  
法律状态
2014-01-15 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101685696972
IPC(主分类) : H03L 7/08
专利号 : ZL2005101112950
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 上海华虹NEC电子有限公司
变更后权利人 : 上海华虹宏力半导体制造有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
变更后权利人 : 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
登记生效日 : 20131219
2009-08-05 :
授权
2007-08-08 :
实质审查的生效
2007-06-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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