低电平检测电路

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种低电平检测电路。该低电平检测电路是根据Vin信号与开关量传感器之间连接导线的接触电阻调整电压容限，以避免由于接触电阻大而导致Vin端的低电平信号不能被检测到的情况。由电压比较器、电阻构成四通道低电平检测电路，电阻(R₁)和电阻(R₂)设置电压比较器同相输入端基准电压；电压比较器反向输入端与V_CC之间串联上拉电阻排(RN₁)，反向输入电压值为V_CC；电压比较器输出端与V_CC之间串联上拉电阻排(RN₂)，电压比较器输出端为高电平；电压比较器反向器输入端分别与信号输入端(Vin₁)、信号输入端(Vin₂)、信号输入端(Vin₃)、信号输入端(Vin₄)之间串联上拉电阻排(RN₂)，电阻排(RN₂)用于调整输入端的低电平容限。

基本信息

专利标题：

低电平检测电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820095149.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-06-27

授权号：

CN201203646Y

授权日：

2009-03-04

发明人：

凌兆蔚黄斌闻维维梁勇黄志青

申请人：

深圳市特尔佳科技股份有限公司

申请人地址：

518000广东省深圳市南山区沙河西路白沙大厦406

代理机构：

广州三环专利代理有限公司

代理人：

满群

优先权：

CN200820095149.2

主分类号：

G01R19/155

IPC分类号：

G01R19/155 G01R19/165