量子共振分析仪
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摘要

一种检测样本中的组成物质的量子共振荧光显微镜系统,其使用准直光的飞秒到纳秒探测脉冲激发包含该材料的样本,将探测脉冲分离为频率、偏振、相位和/或幅值的分量特征来定制探测脉冲以优化检测给定材料。将分量特征独立整形并形成为选择来优化从该材料接收的信号响应脉冲的复合脉冲。在某些情况下,组合两个独立重新整形的脉冲,一个重新整形脉冲具有两个混合的偏振状态,另一个为线性偏振。使两个脉冲以90度角交叉以使组合脉冲在XYZ轴的每一个中具有电场。通过测试材料特征变化、将适合度值赋给可优化来自材料的独特光谱响应的变量、使用遗传算法选择增强在典型背景下接收的响应的独特性的分量特征组合,对给定材料为脉冲分量特征选择适当形状。

基本信息
专利标题 :
量子共振分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1808103A
申请号 :
CN200510129065.7
公开(公告)日 :
2006-07-26
申请日 :
2005-11-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
斯蒂芬·P·麦格鲁
申请人 :
斯蒂芬·P·麦格鲁
申请人地址 :
美国华盛顿
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
李辉
优先权 :
CN200510129065.7
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N23/04  G01N21/64  G01N24/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2009-12-09 :
授权
2007-01-10 :
实质审查的生效
2006-07-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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