光电编码器、用于光电编码器的比例尺及其制造方法
授权
摘要
主尺(10)具有形成在基底元件(11)上的例如铬制薄膜的凸光栅(12)。基底元件(11)和铬薄膜构成了一反射面，其被设定成在光接收面上提供充足的接收光量。通过对薄膜进行光蚀刻，可使凸光栅(12)精确成形。
基本信息
专利标题 ：
光电编码器、用于光电编码器的比例尺及其制造方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1786671A
申请号 ：
CN200510129425.3
公开（公告）日 ：
2006-06-14
申请日 ：
2005-12-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
久保哲彦野泽至成
申请人 ：
三丰株式会社
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
马高平
优先权 ：
CN200510129425.3
主分类号 ：
G01D5/26
IPC分类号 ：
G01D5/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置，即应用红外光、可见光或紫外光
法律状态
2009-04-01 ：
授权
2006-08-09 ：
实质审查的生效
2006-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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