湿法侧向导引微透镜成形方法
专利权的终止
摘要

湿法侧向导引微透镜成形方法,在基底材料表面蒸镀牺牲层,再在牺牲层表面涂敷光刻胶,然后确定微透镜在基片表面的位置,如果微透镜非紧密排布则采用光刻方法去除微透镜口径范围以外的光刻胶,如果微透镜紧密排布,则取微透镜最底部横向若干微米的范围作为开孔,并去除该开孔范围内的抗蚀剂;采用辅刻蚀液去除光刻胶去除后暴露出的牺牲层,将主刻蚀液和辅刻蚀液按比例混合,再将牺牲层和光刻胶部分去除后的结构放置在混合液中腐蚀,当牺牲层材料被辅刻蚀液侧向腐蚀完后,取出元件清洗,烘干即得到需要的元件。本发明既避免了干法刻蚀对元件的污染,又降低了成本,可用于各种金属及半导体材料材质的各种浮雕深度的高抗损伤连续表面微透镜阵列。

基本信息
专利标题 :
湿法侧向导引微透镜成形方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1790063A
申请号 :
CN200510130718.3
公开(公告)日 :
2006-06-21
申请日 :
2005-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
董小春杜春雷刘强李淑红邓启凌
申请人 :
中国科学院光电技术研究所
申请人地址 :
610209四川省成都市双流350信箱
代理机构 :
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 :
刘秀娟
优先权 :
CN200510130718.3
主分类号 :
G02B3/00
IPC分类号 :
G02B3/00  G03F7/20  G03F7/32  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B3/00
简单或复合透镜
法律状态
2016-02-24 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101646290396
IPC(主分类) : G02B 3/00
专利号 : ZL2005101307183
申请日 : 20051223
授权公告日 : 20090429
终止日期 : 20141223
2009-04-29 :
授权
2008-03-05 :
实质审查的生效
2006-06-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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