测量装置
授权
摘要
使用一种具备光源(4)、输出对应于光的强度的大小的信号的第1受光元件(5)及第2受光元件(6)、运算部(12)、和存储部(13)的测量装置。第1受光元件(5)及光源(4)配置为，使透射试料的来自光源的透射光由第1受光元件(5)接受。第2受光元件(6)配置为，使其接受从光源(4)射出的透射光以外的光。在存储部(13)中存储有在没有试料的状态下从光源(4)射出光时的第1受光元件(5)的输出值和第2受光元件(6)的输出值的相关关系。运算部根据在存在试料的状态下从光源(4)射出光时的第1受光元件(5)及第2受光元件(6)的输出值和相关关系，计算包含在试料中的对象成分的吸光度。
基本信息
专利标题 ：
测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101031791A
申请号 ：
CN200580033422.8
公开（公告）日 ：
2007-09-05
申请日 ：
2005-09-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
伊藤佑树畑仁中西弘幸
申请人 ：
爱科来株式会社
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
胡建新
优先权 ：
CN200580033422.8
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59 G01N21/78 G01N21/27 G01N33/483 G01N21/77 G01N33/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2011-03-30 ：
授权
2007-10-31 ：
实质审查的生效
2007-09-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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