用于探测物体的平移的探测系统
专利权的视为放弃
摘要
本发明涉及用于探测物体(2)的平移(T)的系统(1)，所述物体具有施加于其上的衍射图案(3)。所述系统包括：用于向所述衍射图案提供入射光束(I)，从而从所述衍射图案获得衍射光束(D)的装置(4)；用于通过所述入射光束和所述衍射光束之间的干涉测量相位差的装置(4)；用于基于所述的测得的相位差探测所述平移的装置(4)。本发明还涉及一种用于探测物体(2)的平移的方法；重定向装置6和频率复用系统。
基本信息
专利标题 ：
用于探测物体的平移的探测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101061370A
申请号 ：
CN200580039740.5
公开（公告）日 ：
2007-10-24
申请日 ：
2005-11-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
雷纳图斯·G.·克拉韦尔约翰·C.·康普特皮特·范德梅尔
申请人 ：
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
王英
优先权 ：
CN200580039740.5
主分类号 ：
G01D5/38
IPC分类号 ：
G01D5/38
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置，即应用红外光、可见光或紫外光
G01D5/32
利用光束的减弱或者全部或局部的闭塞
G01D5/34
利用光电元件检测光束
G01D5/36
将光线形成脉冲
G01D5/38
用衍射光栅
法律状态
2010-09-01 ：
专利权的视为放弃
号牌文件类型代码 : 1606
号牌文件序号 : 101005218429
IPC(主分类) : G01D 5/38
专利申请号 : 2005800397405
放弃生效日 : 20071024
号牌文件序号 : 101005218429
IPC(主分类) : G01D 5/38
专利申请号 : 2005800397405
放弃生效日 : 20071024
2008-01-23 ：
实质审查的生效
2007-10-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN101061370A.PDF
PDF下载
