在板材制造系统中测量选择组分的传感器和方法

专利权的终止

摘要

一种有效的且通用的光谱学传感器可被配置成具有声光可调的滤波器。通过该不同频谱滤波器，可快速调整滤波器的中心波长和带宽。一种传感器，用于测量组合物中的至少一种选择组分，其可以包括：(a)宽带光源；(b)声光可调滤波器(AOTF)；(c)用于从光源产生光束的装置，并且其入射光束到AOTF上，其中可调节AOTF以通过具有预期波长范围的检测光来检测该组合物中至少一种组分的浓度；(d)用于入射已知波长检测光到该组合物的装置；(e)用于接收来自组合物的光的检测装置；(f)程序结构，其耦合到AOTF，该程序结构(25)可为AOTF提供作为该组合物中至少一种组分特性的至少一个预期波长范围。此外，可配置该装置以使AOTF处于该传感器的检测侧上。可使用这些传感器来测量光学透明膜的厚度。

基本信息

专利标题：

在板材制造系统中测量选择组分的传感器和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101124475A

申请号：

CN200580048241.2

公开（公告）日：

2008-02-13

申请日：

2005-12-15

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

F·M·哈兰

申请人：

霍尼韦尔国际公司

申请人地址：

美国新泽西州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

温大鹏

优先权：

CN200580048241.2

主分类号：

G01N21/89

IPC分类号：

G01N21/89 G01N21/35 G01N21/31 G01N33/34 G01J3/12 G01B11/06

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01N

借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

G01N21/00

利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料

G01N21/84

专用于特殊应用的系统

G01N21/88

测试瑕疵、缺陷或污点的存在

G01N21/89

在移动的材料中，例如，纸张、织物中

法律状态

2019-12-06 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/89
申请日 : 20051215
授权公告日 : 20111123
终止日期 : 20181215

2011-11-23 ：

授权

2008-04-09 ：

实质审查的生效

2008-02-13 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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