电子部件试验装置以及电子部件试验装置的接触臂的最优按压条...
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明的电子部件试验装置(10)具备：使IC器件移动并按压到插座301上的接触臂(312)；控制接触臂(312)的控制装置(316)；向控制装置(316)指示接触臂(312)的按压扭矩的指示部件(321)；从测试器(20)取得在按照由指示部件(321)指示的扭矩由接触臂(312)将IC器件按压在插座(301)上时执行的IC器件的试验结果的取得部件(322)；与由取得部件(322)取得的试验结果对应地，对向控制装置(316)指示的扭矩进行修正的修正部件(323)；在修正部件(323)没有修正扭矩的情况下，将试验结果正常的试验时的行程设定为最优行程的设定部件(324)。
基本信息
专利标题 ：
电子部件试验装置以及电子部件试验装置的接触臂的最优按压条件设定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101305286A
申请号 ：
CN200580052032.5
公开（公告）日 ：
2008-11-12
申请日 ：
2005-11-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金子茂树
申请人 ：
株式会社爱德万测试
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
吴丽丽
优先权 ：
CN200580052032.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2011-07-20 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101115532132
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利申请号 : 2005800520325
公开日 : 20081112
号牌文件序号 : 101115532132
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利申请号 : 2005800520325
公开日 : 20081112
2009-01-07 ：
实质审查的生效
2008-11-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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